[发明专利]探测装置在审
| 申请号： | 201711008509.0 | 申请日： | 2017-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN107807405A | 公开（公告）日： | 2018-03-16 |
| 发明（设计）人： | 张龙;张丽;洪明志;梁晋宁 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V8/20 | 分类号： | G01V8/20 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 | 代理人： | 彭琼 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种探测装置，用于扫描成像设备，其包括支座，支座具有弧形基面；后准组件，后准组件通过第一导轨滑动设置在支座上，以使后准组件能够相对于支座沿弧形基面的轴向进行直线运动；探测器组件，探测器组件通过第二导轨滑动设置在后准组件上，以使探测器组件能够相对后准组件沿弧形基面的轴向进行直线运动。本发明实施例探测装置包括的后准组件和探测器组件的位置均可根据实际应用要求进行调整，以使后准组件、探测器组件和光路对准，提高探测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 探测 装置 | ||
【主权项】：
一种探测装置，用于扫描成像设备，其特征在于，包括：支座，所述支座具有弧形基面；后准组件，所述后准组件通过第一导轨滑动设置在所述支座上，以使所述后准组件能够相对于所述支座沿所述弧形基面的轴向进行直线运动；探测器组件，所述探测器组件通过第二导轨滑动设置在所述后准组件上，以使所述探测器组件能够相对所述后准组件沿所述弧形基面的轴向进行直线运动。
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