[发明专利]一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置有效

专利信息
申请号: 201711012113.3 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107941660B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 杨东旭;王明 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N15/06
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种磁颗粒检测系统的误差提取方法和装置,利用两种相对独立的磁颗粒检测方法,以磁导率为隐变量建立感应线圈电压和感应线圈电感之间的联系,实现感应线圈电感理论值和测量值之间的误差提取,并由此得到感应电压误差和共振频率误差。本发明误差提取装置中,信号运算模块(8)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈,测量感应线圈的电压,计算感应线圈电感理论值。信号运算模块(8)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。扫频测量模块(9)的输入端连接磁颗粒检测系统的感应线圈,测量感应线圈的电感值,扫频测量模块(9)的输出端连接误差提取模块(10)的输入端。误差提取模块(10)计算感应线圈电感误差、电压误差和共振频率误差。
搜索关键词: 一种 颗粒 检测 系统 误差 提取 方法 装置
【主权项】:
1.一种磁颗粒检测系统的误差提取方法,其特征是:所述方法利用两种相对独立的磁颗粒检测方式,以磁导率为隐变量建立感应线圈电压和感应线圈电感之间的联系,实现感应线圈电感理论值和测量值之间的误差提取,并由此得到感应电压误差和共振频率误差;具体步骤如下:(1)通过测量得到感应线圈电压u,并使用此感应线圈电压u推导出感应线圈的电感L,得到感应线圈电感L的理论值L1,方法如下:1)首先通过感应电压u得到磁化强度M,表达式为:考虑到当M=0时,u=0,故取初值M(0)=0,式中,k为与线圈结构有关的恒定系数,是真空磁导率、线圈灵敏度以及线圈内部体积的乘积;2)再由磁化强度M得到关于磁导率μ的表达式,由郎之万顺磁理论可知,其中Ms是饱和磁化强度,为郎之万方程,x和磁颗粒磁导率μmp正相关:其中,m0是单个磁颗粒的磁矩,kB是玻尔兹曼常数,T是温度,H是激励线圈所激发的磁场的磁场强度;进一步考虑到磁颗粒检测系统中的感应线圈电感L与磁导率μ的关系:其中,N1是激励线圈匝数,N2是感应线圈匝数,A是感应线圈横截面面积,l是感应线圈长度,μmp是磁颗粒磁导率,μother是除磁颗粒以外感应线圈内其他物质对磁导率的贡献,由磁颗粒检测装置在未放置磁颗粒时测得;整理可得:由于磁颗粒是铁磁材料,其磁导率将会远大于线性磁导率的材料的磁导率μother,且考虑到非铁磁性材料磁导率通常很小,故这里使用:进行近似;3)整理以上表达式,得到感应电压u和感应线圈电感L的关系,结合激励磁场的具体选取情况,即由感应电压u得到感应线圈电感L,即感应线圈电感理论值L1:其中,是郎之万方程的反函数;(2)通过测量感应线圈电感得到感应线圈电感测量值;(3)由感应线圈电感理论值L1和感应线圈电感测量值计算得到感应线圈电感误差ΔL,感应线圈电感误差ΔL为感应线圈电感L理论值L1与测量值L2之间的差值:ΔL=L1‑L2(4)计算感应线圈电压误差,计算频率误差得到共振频率误差,完成误差提取;感应线圈电压误差和共振频率误差由感应线圈电感误差ΔL进一步得到:根据需求,若需用感应电压信号波形的频谱的幅值来反映磁颗粒浓度的变化,则将下列算式整合即可得到感应线圈电压误差Δu:Δu=u2‑u其中,μmp是磁颗粒磁导率,μother是除磁颗粒以外感应线圈内其他物质对磁导率的贡献,Δμmp是对磁颗粒磁导率的修正值,x2是对郎之万方程自变量的修正后的结果,M2是磁化强度的修正后的结果,u2是感应线圈电压的修正后的结果;感应线圈电压误差Δu作为补偿电压,弥补由于误差导致的电压变动,或用于对周边环境进行探测,提高磁颗粒成像的效果;若需用感应线圈电感和共振频率来反映磁颗粒浓度的变化,则利用下面两式计算共振频率误差Δf:Δf=f2‑f其中,C是电路中的电容值,L是感应线圈电感,ΔL是感应线圈的电感误差,f2是考虑电感误差后得到的共振频率值,f是考虑电感误差前得到的共振频率值,Δf是共振频率误差;共振频率误差Δf作为补偿频率,弥补由于误差导致的共振频率变动,或用于对周边环境进行探测,提高磁颗粒成像的效果。
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