[发明专利]封装结构及其制造方法在审
申请号: | 201711014931.7 | 申请日: | 2017-10-25 |
公开(公告)号: | CN108807322A | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 林柏均;朱金龙 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/56 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 席勇;周勇 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种封装结构及其制造方法,封装结构包含:半导体基板;焊垫设置于半导体基板之上;导电层设置于焊垫之上;保护涂层;以及金属凸块设置于导电层之上,且保护涂层覆盖金属凸块,借以避免金属凸块的氧化。本发明能够满足减少回流工艺要求,并降低成本。 | ||
搜索关键词: | 封装结构 金属凸块 半导体基板 导电层 焊垫 工艺要求 涂层覆盖 制造 | ||
【主权项】:
1.一种封装结构,其特征在于,包含:半导体基板;焊垫,设置于所述半导体基板之上;导电层,设置于所述焊垫之上;保护涂层;以及金属凸块,设置于所述导电层之上,且所述保护涂层覆盖所述金属凸块,以避免所述金属凸块的氧化。
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