[发明专利]球面阵天线通道相对幅相特性的近场标校方法有效
| 申请号： | 201711017708.8 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN108107276B | 公开（公告）日： | 2019-08-06 |
| 发明（设计）人： | 王文政;苏勋;俄广西 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所（中国电子科技集团公司第十研究所） |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01S7/40 |
| 代理公司： | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人： | 郭纯武 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出的一种球面阵天线通道相对幅相特性的近场标校方法，旨在提供一种校准源少，能够自动化相对幅相特性进行自校正的方法。本发明通过下述技术方案予以实现：在相控阵天线外围架设围绕球面天线阵面分布的标校架和架设在相控阵天线中心的一个标校架，形成天线单元近似均匀分布的共形球面阵列分布模型；运用光学设备对每个标校天线相对于球面阵天线中心点的坐标位置进行高精度测量，计算出球面阵天线上每个阵元与标校天线的空间距离与轴向夹角；然后采用标校测试设备产生的标校参考信号对球面阵天线上/下行通道进行标校，扣除标校天线自身的相对幅/相特性与标校天线与阵元空间距离以及轴向偏转引入的幅/相变化，得到阵元天线通道本身的幅/相特性。 | ||
| 搜索关键词： | 标校 球面 阵天线 天线 幅相特性 相控阵天线 空间距离 近场 阵元 架设 高精度测量 测试设备 分布模型 光学设备 球面天线 球面阵列 天线单元 下行通道 阵元天线 轴向夹角 轴向偏转 坐标位置 相变化 校准源 中心点 自校正 共形 阵面 近似 自动化 扣除 外围 引入 | ||
【主权项】：
1.一种球面阵天线通道相对幅相特性的近场标校方法，其特征在于包括如下步骤：在相控阵天线外围架设围绕球面天线阵面分布的标校架和架设在相控阵天线中心的一个标校架，每个标校架上分布距离球面天线阵面1～10米的4～6个信标天线，形成天线单元近似均匀分布的共形球面阵列分布模型；信标天线对于球面阵等效口径为近场耦合，相对于球面阵天线上的每个阵元都满足远场距离条件；根据安装标校天线的位置，创建球面阵天线坐标系，运用光学设备对每个标校天线相对于球面阵天线中心点的坐标位置进行高精度测量，计算出球面阵天线上每个阵元与标校天线的空间距离与轴向夹角；然后采用标校测试设备产生的标校参考信号对球面阵天线上/下行通道进行标校，运用分布在相控阵天线四周标校架上的信标天线对阵面60°弧面内的阵元通道幅相进行校准，架设在相控阵天线中心标校架上的信标天线对阵面顶部阵元通道幅相进行校准；在用标校天线对球面阵天线上阵元通道进行标校后，扣除标校天线自身的相对幅/相特性与标校天线与阵元空间距离以及轴向偏转引入的幅/相变化，得到阵元天线通道本身的幅/相特性；利用球面阵天线外围分布的标校天线最终获得的整个球面天线所有通道的相对幅/相特性。
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