[发明专利]半导体开关控制装置有效
申请号: | 201711017831.X | 申请日: | 2017-10-26 |
公开(公告)号: | CN108023583B | 公开(公告)日: | 2021-04-23 |
发明(设计)人: | 森本充晃 | 申请(专利权)人: | 矢崎总业株式会社 |
主分类号: | H03K17/567 | 分类号: | H03K17/567;G01R31/327 |
代理公司: | 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 | 代理人: | 贾宁;王国志 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种在判定半导体开关的故障的情况下能够抑制大型化的半导体开关控制装置。半导体开关控制装置(1)包括:将在高电压电池(HV)与高电压负载(2)之间双向流动的电流接通或者断开的双向断开电路(10);用于检测双向断开电路(10)的电压的电阻R;对施加在电阻(R)的电压进行检测的第一电压检测部(30);和根据由第一电压检测部(30)检测出的第一检测电压(Vd)来判定双向断开电路(10)的故障的控制部(50)。双向断开电路(10)具有:源极端子彼此串联连接的FET(10B)和FET(10A);源极端子彼此串联连接的FET(10D)和FET(10C)。电阻(R)的一端在FET(10B)和FET(10A)的源极端子间连接,另一端在FET(10D)和FET(10C)的源极端子间连接。 | ||
搜索关键词: | 半导体 开关 控制 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体开关控制装置,其特征在于,包括:半导体开关模块,其设置在电源与负载之间,将在所述电源与所述负载之间双向流动的电流接通或者断开;电阻,用于检测所述半导体开关模块的电压;第一电压检测部,对施加在所述电阻的电压进行检测;和控制部,根据由所述第一电压检测部检测出的第一检测电压,判定所述半导体开关模块的故障,其中,所述半导体开关模块具有第一半导体开关模块、与所述第一半导体开关模块并联连接的第二半导体开关模块,所述第一半导体开关模块具有:第一正向开关,体二极管配置在所述电流流动的方向即正向;和第一反向开关,与所述第一正向开关相邻配置,体二极管配置在与所述正向相反的方向即反向,所述第一正向开关和所述第一反向开关中,源极端子彼此串联连接,一个漏极端子与所述电源连接,另一个漏极端子与所述负载连接,所述第二半导体开关模块具有:第二正向开关,体二极管配置在所述正向;和第二反向开关,与所述第二正向开关相邻配置,体二极管配置在所述反向,所述第二正向开关和所述第二反向开关中,源极端子彼此串联连接,一个漏极端子与所述电源连接,另一个漏极端子与所述负载连接,所述电阻的一端连接在所述第一正向开关和所述第一反向开关之间的所述源极端子间,另一端连接在所述第二正向开关与所述第二反向开关之间的所述源极端子间。
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