[发明专利]基于CaF2栅介质的零栅源间距金刚石场效应晶体管及制作方法在审

专利信息
申请号: 201711017957.7 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107919395A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 张金风;王晨昱;任泽阳;陈万娇;张进成;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/51;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 陕西电子工业专利中心61205 代理人: 王品华,朱红星
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于CaF2栅介质层的零栅源间距金刚石场效应晶体管及制作方法,主要解决现有技术导通电阻较大,输出电流和跨导较低的问题。其包括金刚石衬底(1)、氢终端表面(2)、栅介质层(3)、源漏电极(4)和栅电极(5)。源、漏电极位于氢终端表面上的两侧。栅介质层位于源、漏电极之间的氢终端表面上并覆盖源、漏电极的部分表面,且栅介质层的上方设有栅电极,栅电极的下半部分镶嵌在源、漏电极之间,上半部分隔着栅介质覆盖在源、漏电极之上,形成T型栅结构,该栅极分别与源漏极之间的间距都为零;栅介质(3)采用CaF2材料。本发明具有导通电阻小,跨导高以及饱和电流大的优点,可用于功率器件和数字逻辑电路器件等。
搜索关键词: 基于 caf2 介质 零栅源 间距 金刚石 场效应 晶体管 制作方法
【主权项】:
一种基于CaF2栅介质的零栅源间距金刚石场效应晶体管,包括金刚石衬底(1)、氢终端表面(2)、栅介质层(3)、源漏电极(4)以及栅电极(5)。源、漏电极(4)位于氢终端表面(2)上的两侧,栅介质层(3)位于源、漏电极(4)之间的氢终端表面(2)上并覆盖源、漏电极(4)的部分表面,其特征在于:栅介质层(3)的上方设有栅电极(5),栅电极(5)的下半部分镶嵌在源、漏电极之间,上半部分隔着栅介质覆盖在源、漏电极之上,形成T型栅结构;栅极与源极和栅极与漏极之间的间距都为零;栅介质(3)采用CaF2。
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