[发明专利]共晶式异方性导电膜及制作方法在审
申请号: | 201711018214.1 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN109727701A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 颜永裕 | 申请(专利权)人: | 玮锋科技股份有限公司 |
主分类号: | H01B5/14 | 分类号: | H01B5/14;H01B13/00 |
代理公司: | 北京华夏博通专利事务所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 刘俊 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种共晶式异方性导电膜及制作方法,包括:备制具有电气绝缘性的电气绝缘基材;备制多个包含核体以及合金披覆层的共晶式导电球;加入所述共晶式导电球至电气绝缘基材而混合成初步混合体;利用搅拌装置搅拌初步混合体形成均匀混合体;利用刮刀装置将均匀混合体在基板上涂布成具特定厚度的薄膜体;以及进行加热烘干处理以形成薄膜体,并经冷却后形成共晶式异方性导电膜。本发明的共晶式异方性导电膜可在加热加压下与上层本体及下层本体形成共晶结合,不仅改善表面接触贴合性,还能增强结合强度,大幅降低界面电阻值,提高电气特性。 | ||
搜索关键词: | 共晶 异方性导电膜 电气绝缘基材 均匀混合体 初步混合 薄膜体 导电球 电气绝缘性 电气特性 共晶结合 刮刀装置 加热烘干 加热加压 搅拌装置 界面电阻 披覆层 贴合性 核体 基板 下层 制作 合金 冷却 上层 | ||
【主权项】:
1.一种共晶式异方性导电膜,其特征在于,用以藉一共晶方式而结合位于该共晶式异方性导电膜的一上表面的一上层本体以及位于该共晶式异方性导电膜的一下表面的一下层本体,包括:一电气绝缘基材,具有电气绝缘性及可挠性;以及多个共晶式导电球,分布于该电气绝缘基材中,且所述共晶式导电球占该共晶式异方性导电膜的重量比为0.1至25%,其中每个该共晶式导电球包含一核体以及一合金披覆层,该合金披覆层是披覆在该核体的一外表面上,并具导电性,且是由一铜铟锡合金材料或一锡银铋合金材料构成,该铜铟锡合金材料包含铜、铟及锡,且该铜铟锡合金材料中的铜占该铜铟锡合金材料的1至5%莫耳比,该铜铟锡合金材料中的铟占该铜铟锡合金材料的5至10%莫耳比,而该铜铟锡合金材料中的锡占该铜铟锡合金材料的95至85%莫耳比,该锡银铋合金材料包含锡、银及铋,且该锡银铋合金材料中的锡占该锡银铋合金材料的30至70%莫耳比,该锡银铋合金材料中的银占该锡银铋合金材料的1至5%莫耳比,该锡银铋合金材料中的铋占该锡银铋合金材料的20至70%莫耳比,该合金披覆层的熔点为150至200℃之间,该核体的直径为2至50微米之间,该合金披覆层的直径为0.01至0.15微米之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于玮锋科技股份有限公司,未经玮锋科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711018214.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。