[发明专利]一种高通量材料芯片四探针原位电阻测量设备在审

专利信息
申请号: 201711019802.7 申请日: 2017-10-26
公开(公告)号: CN107727697A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 李平;谭奇伟;安富强;刘志伟;曲选辉;秦明礼 申请(专利权)人: 北京科技大学
主分类号: G01N27/04 分类号: G01N27/04;G01N27/14
代理公司: 北京市广友专利事务所有限责任公司11237 代理人: 张仲波
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种高通量材料芯片四探针原位电阻测量设备,属于材料测试技术领域。该设备包括高通量四探针探头、耐高温高压气密罐体、样品架台、多通道四探针电阻测试仪、传输线缆和数据记录软件;样品架台位于耐高温高压气密罐体内,高通量四探针探头安装在样品架台上,高通量四探针探头通过传输线缆连接多通道四探针电阻测试仪,数据记录软件安装于上位机,接收来自多通道四探针电阻测试仪测量的数据。本发明能够在高温高压气体环境下,同时测量和记录多达64个样品的四探针电阻随时间、气压、温度等参数的变化,具备足够的精度和可靠性,极高的数据采集频率,低廉的硬件成本和简单的操作方法,同时也可以满足对少量样品电阻精确测量的要求。
搜索关键词: 一种 通量 材料 芯片 探针 原位 电阻 测量 设备
【主权项】:
一种高通量材料芯片四探针原位电阻测量设备,其特征在于:包括高通量四探针探头(1)、耐高温高压气密罐体(2)、样品架台(3)、多通道四探针电阻测试仪(6)、传输线缆(5)和数据记录软件(7);样品架台(3)位于耐高温高压气密罐体(2)内,高通量四探针探头(1)安装在样品架台(3)上,高通量四探针探头(1)通过传输线缆(5)连接多通道四探针电阻测试仪(6),数据记录软件(7)安装于上位机,数据记录软件(7)接收来自多通道四探针电阻测试仪(6)测量的数据,并进行实时显示和记录。
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