[发明专利]一种统计第二相分布的方法

摘要

本发明公开了一种统计第二相分布的方法，相对于现有的观察第二相方式与统计方法的缺陷和不足，本发明通过用傅立叶变换对扫描图片进行降噪，相对与人工降噪其精度大大地得到提高；通过数学方法对EDS图中的第二相进行识别，准确地区分了合金中的第二相；并借助相应工具对第二相分布信息进行一个完善的统计。其步骤如下：S1、样品预处理；S2、EBSD和EDS面扫描图像拍摄；S3、图像预处理；S4、采用八邻域连通分割算法对降噪后的图像进行颗粒提取；S5、第二相识别；S6、第二相尺寸和空间分布及距晶界最短距离统计。上述方法通过对第二相分布的统计，能有效地得到第二相的析出情况：均匀析出或沿晶界析出，为评估材料力学性能的变化趋势提供参考。

主权项

一种统计第二相分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、样品预处理：对合金样品进行抛光并清洗；S2、图像拍摄：采用扫描电镜进行EBSD扫描，然后提取出晶界图像；然后进行EDS面扫描；S3、图像预处理：对S3得到的EDS面扫描图像进行降噪并重新赋值；S4、颗粒分割：采用八邻域连通分割算法对S3得到图像中的元素进行颗粒提取；S5、第二相识别：计算任意两种元素颗粒的重心差，若两元素颗粒的重心差小于预设的偏差值，则两个元素颗粒分区即为第二相化合物，剩余元素颗粒第二相单质；S6、第二相特征统计：统计第二相到晶界的最短距离、第二相尺寸及第二相的空间分布。