[发明专利]隔膜孔隙率测试方法在审
| 申请号： | 201711020357.6 | 申请日： | 2017-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN107843533A | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 袁庆华;杨俊;赵悠曼;乔亚非 | 申请（专利权）人： | 东莞市创明电池技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司44414 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 523000 广东省东莞市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种隔膜孔隙率测试方法，包括以下步骤截取隔膜样品，计算并记录隔膜样品的表观体积V1；将隔膜样品置于烘箱中熔融并冷却，得到熔化的隔膜块；将隔膜块放置于容量瓶内并将容量瓶置于天平上，天平的读数归零，向容量瓶内加入已知密度ρ的溶剂至容量瓶的刻度线处并保证隔膜块浸没在溶剂内，记录容量瓶内容物体积读数V2及天平读数M；上一步中加入的溶剂的体积V3＝M/ρ，并得到隔膜块的体积为V4＝V2‑V3；计算隔膜样品的孔隙率。本发明测试方法所需的设备简单，操作方便，测试结果准确，适用于多种隔膜。 | ||
| 搜索关键词： | 隔膜 孔隙率 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种隔膜孔隙率测试方法，其特征在于：包括以下步骤，(1)截取隔膜样品，计算并记录所述隔膜样品的表观体积V1；(2)将所述隔膜样品置于烘箱中熔融并冷却，得到熔化的隔膜块；(3)将所述隔膜块放置于容量瓶内并将所述容量瓶置于天平上，天平的读数归零，向所述容量瓶内加入已知密度ρ的溶剂至所述容量瓶的刻度线处并保证所述隔膜块浸没在所述溶剂内，记录容量瓶内容物体积读数V2及天平读数M；(4)在步骤(3)中加入的所述溶剂的体积V3＝M/ρ，并得到所述隔膜块的体积为V4＝V2‑V3；(5)所述隔膜样品的孔隙率为
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