[发明专利]测试装置，测试系统和测试装置的控制方法在审
| 申请号： | 201711022933.0 | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN108007863A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 吕永培;朴实;裵秀奉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/49;G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 张波 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了测试装置、测试系统和测试装置的控制方法，其限定反应器中的光照射区域以防止检测的信号的大小的降低，并且改善动态范围，所述检测信号的大小的降低可能是由已经通过除了包含检测对象的区域之外的反应器的其他区域的光的散射而导致的。测试装置可以包括：光源，其配置成照射光；反应器，其包括包含检测对象的至少一个第一区域；以及光检测器，其配置成接收已经从所述光源照射的并且已经通过包含所述检测对象的所述反应器的光；其中，所述光源配置成受限制地将光照射到所述反应器的所述第一区域。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 系统 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试装置，包括：光源，其配置成发射光；反应器，其包括至少一个第一区域，所述第一区域配置成包含检测对象；以及光检测器，其配置成接收已经从所述光源发射的并且已经通过包含所述检测对象的所述反应器的光；其中，所述光源配置成限制发射到所述反应器的所述第一区域的光。
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