[发明专利]一种高空间分辨的泵浦-探测微区测量装置、系统及方法有效
申请号: | 201711023489.4 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107843560B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 江天;郝昊;韦可;李汉;沈超;郑鑫;程湘爱;许中杰;陈润泽;刘煜;阳东升;武庆雄;杨澜;张峻;赵杰;周军虎;王义之 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科技大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/31 |
代理公司: | 湖南兆弘专利事务所(普通合伙) 43008 | 代理人: | 周长清;蒋维特 |
地址: | 410073 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种高空间分辨的泵浦‑探测微区测量装置、系统及方法,装置包括:激光器、分光器、泵浦激光调节组件、探测激光调节组件、合束器、微区测量组件和光强探测组件;泵浦激光调节组件用于对两束激光中的一束进行调节,得到泵浦激光;探测激光调节组件用于对两束激光中的另一束进行调节,得到探测激光;合束器用于对泵浦激光和探测激光合进行合束;微区测量组件用于在测量前通过显微方式定位待测样品的测量位置,并聚焦泵浦激光和探测激光,对待测样品进行探测;光强探测组件用于探测探测激光的光强和待测样品的透射激光的光强。可提供高空间分辨率的待测样品微区光学图像和探测图像,具有良好的成像效果和线性效果等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 空间 分辨 探测 测量 装置 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种高空间分辨的泵浦—探测微区测量装置,其特征在于,包括:激光器(1)、分光器(2)、泵浦激光调节组件、探测激光调节组件、合束器(13)、微区测量组件(14)和光强探测组件;所述激光器(1)用于产生激光;所述分光器(2)用于将所述激光分为两束;所述泵浦激光调节组件用于对所述两束激光中的一束进行调节,得到泵浦激光;所述探测激光调节组件用于对所述两束激光中的另一束进行调节,得到探测激光;所述合束器(13)用于对所述泵浦激光和探测激光合进行合束;所述微区测量组件(14)用于在测量前通过显微方式定位待测样品的测量位置,并聚焦所述泵浦激光和探测激光,对所述待测样品进行探测;所述光强探测组件用于探测所述探测激光的光强和待测样品的透射激光的光强。
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