[发明专利]离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置

摘要

一种分辨率较高的离轴抛物线型X射线平行弯晶谱仪，包括准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成，整个系统中的调节可通过上下、左右、前后、俯仰和左右摆角进行五维调整，对X测量时遵循通过抛物线焦点的X射线经晶体衍射后与抛物线光轴平行的原理。其方法是：X射线源出射的X射线通过抛物线的焦点，经抛物面弯晶分析器衍射后，被X射线CCD相机探测。通过弯晶分析器主体的衍射角度可从24^o到45^o之间进行调控，最小调节精度为0.1mrad，可连续测量的范围为0.1nm—2nm。根据光路可逆原理，把探测器放在抛物线焦点位置，该弯晶分析器可用于空间站中对宇宙射线的接收和分析研究。所发明的抛物面型X射线平行弯晶谱仪装置成本低廉、操作方便，对X射线测量宽度宽，分辨率高，使X射线展宽的更宽，稳定性好，可实时、快速获取X射线能谱。

主权项

1.一种分辨率较高的离轴抛线型X射线平行弯晶谱仪装置，其特征在于： 整个装置由准直系统、光路调节系统、采集系统和真空腔组成；其中准直系统由抛物线分光晶体（1）、固定有抛物线分光晶体的抛物线型不锈钢基体（2）、狭缝（3）、电调五维调整架（4）（5）和对五维调整架（4）（5）进行调节的电机（6）（7）组成；光路调节系统主要由全反射镜（8），真空跳线（10）和对全反射镜进行调节的电调五维调整架（11）与电机（13）组成；采集系统由具有平直感光面的X射线相机CCD（9）和安装有电机（14）的电调五维调整架（12）组成；准直系统，调节系统和采集系统安装在真空腔（15）中；所述抛物线分光晶体（1）固定于不锈钢弯晶基体（2）的抛物面形刻槽中，不锈钢基体（2）固定在安装有电机（7）的电调五维调整架（5）上；所述X射线源出射的X射线经过抛物线焦点处的小孔（3）照射到抛物线分光晶体（1）上，焦点处的小孔（3）位于电调五维调整架（4）上且与抛物线弯晶的焦点重合；所述CCD探测器（9）位于电调五维调整架（12）上，通过调节可与抛物线分光晶体（1）正对；所述全反射镜（8）安放在电调五维调整架（11）上；所述真空跳线（10）固定在真空腔（15）的壁上；所述电调五维调整架（5）由电机（7）对其进行调节；所述电调五维调整架（4）由电机（6）对其进行调节；所述电调五维调整架（12）由电机（14）对其进行调节；所述电调五维调整架（11）由电机（13）对其进行调节；所述真空腔（15）上面有与X射线源进行的接口（17），真空腔（15）通过真空抽气口（16）与外部电机连接进行抽气。