[发明专利]一种双工作模式的粒子传感器及其检测方法在审
申请号: | 201711027973.4 | 申请日: | 2017-10-28 |
公开(公告)号: | CN107655803A | 公开(公告)日: | 2018-02-02 |
发明(设计)人: | 王绍栋;李贵东 | 申请(专利权)人: | 上海先积集成电路有限公司 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N21/53 |
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地址: | 200001 上海市黄浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种双工作模式的光学粒子传感器,包括光传感模组,其内部光接收单元感测内部光源单元发射的准直检测光投射至粒子感测区域后被粒子散射所产生的散射光并变换输出对应的电信号;光源控制单元,其用于驱动和控制光传感模组中光源单元的工作状态;以及信号处理单元,其接收光传感模组输出的电信号进行信号处理和计算并输出检测到的粒子浓度。所述双工作模式的光学粒子传感器交替地工作在光散射光度计法和光散射粒子计数法两种工作模式。信号处理单元中存储光散射光度计法工作模式的第一标定值和光散射粒子计数法工作模式的第二标定值,并且第一和第二标定值之间具有各自确定的对应关系的相关性粒子浓度范围。 | ||
搜索关键词: | 一种 双工 模式 粒子 传感器 及其 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种双工作模式的光学粒子传感器,其特征在于,包括:光传感模组,其内部光接收单元感测内部光源单元发射的准直检测光投射至粒子感测区域后被粒子散射所产生的散射光并变换输出对应的电信号,光源控制单元,其用于驱动和控制所述光传感模组中所述光源单元的工作状态,以及信号处理单元,其接收所述光传感模组输出的所述电信号进行信号处理和计算并输出检测到的粒子浓度;所述双工作模式的光学粒子传感器交替地工作在光散射光度计法和光散射粒子计数法两种工作模式,所述光散射光度计法工作模式时,所述光传感模组感测一团粒子所产生的所述电信号被所述信号处理单元执行滤波放大、采样及数字化处理后,形成与被感测粒子散射光强度直接相关的能力倾向单位值,所述能力倾向信息再经由所述信号处理单元记录、分析和计算,然后参考存储的第一标定值输出检测到的第一粒子浓度,所述第一标定值为所述信号处理单元中预设的能力倾向数据和粒子浓度值的对应关系,所述光散射粒子计数法工作模式时,所述光传感模组感测一系列粒子组所产生的一系列所述电信号被所述信号处理单元执行滤波放大、采样及数字化处理后,形成与被感测粒子散射光信号直接相关的一系列脉冲,所述一系列脉冲的幅度与间距(脉冲频率)信息再经由所述信号处理单元记录、分析和计算,然后参考存储的第二标定值输出检测到的第二粒子浓度,并在一定程度上确定相关的粒径检测信息,所述第二标定值为所述信号处理单元中预设的一系列脉冲的幅度与间距数据和粒径与粒子浓度值的对应关系。
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