[发明专利]一种多核芯片调试的方法、系统及装置在审
| 申请号： | 201711029835.X | 申请日： | 2017-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN109726095A | 公开（公告）日： | 2019-05-07 |
| 发明（设计）人： | 章旭君 | 申请（专利权）人： | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 林桐苒;龙洪 |
| 地址： | 518055 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种多核芯片调试的方法，包括：在调试过程中，依次检查所述多核芯片的各个核的状态；当检查到任一核的状态由运行态转为挂起态时，暂停其余的核并依次读取各个核的寄存器的值；将各个核对应的寄存器的值显示在调试界面上。一种多核芯片调试的系统及装置。本方案能够同时实时显示多核的状态信息，以及每个核上的函数调用层次关系，方便开发人员的快速直观的观察多核之间关联信息。 | ||
| 搜索关键词： | 多核芯片 调试 系统及装置 寄存器 多核 层次关系 调试过程 关联信息 函数调用 实时显示 依次读取 运行态 挂起 核对 检查 直观 观察 开发 | ||
【主权项】：
1.一种多核芯片调试的方法，包括：在调试过程中，依次检查所述多核芯片的各个核的状态；当检查到任一核的状态由运行态转为挂起态时，暂停其余的核并依次读取各个核的寄存器的值；将各个核对应的寄存器的值显示在调试界面上。
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