[发明专利]增材制造监控系统、方法、装置及增材制造设备有效
申请号: | 201711031640.9 | 申请日: | 2017-10-27 |
公开(公告)号: | CN107807568B | 公开(公告)日: | 2020-08-04 |
发明(设计)人: | 叶志鹏;朱嘉伟;雷柏茂;李骞;胡湘洪;汪凯蔚;王远航 | 申请(专利权)人: | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 |
主分类号: | G05B19/042 | 分类号: | G05B19/042;G01D21/02;B22F3/105 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄隶凡 |
地址: | 511300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种增材制造监控系统,包括上位机、光分束器、熔池监测模组和成形层监测模组。光分束器用于采集增材制造过程中的熔池及其边沿受热区域的辐射光信号。熔池监测模组和成形层监测模组均与上位机通信连接。本发明还公开了一种增材制造监控方法及其装置,以及一种应用上述增材制造监控系统和方法的增材制造设备。本发明的增材制造监控系统、方法、装置及增材制造设备,通过在增材制造过程中,上位机先后触发熔池监测模组提取得到样件每一层成形过程内的全部过程信息、成形层监测模组采集得到每一层成形后的缺陷信息,上位机根据所述过程信息和所述缺陷信息实时控制增材制造过程中的制造参数,实现了增材制造闭环控制,从而大大提高样件成品率及质量。 | ||
搜索关键词: | 制造 监控 系统 方法 装置 设备 | ||
【主权项】:
一种增材制造监控系统,其特征在于,包括上位机、光分束器、熔池监测模组和成形层监测模组;所述光分束器用于采集增材制造过程中的熔池及其边沿受热区域的辐射光信号,以及对所述辐射光信号进行分束后送入所述熔池监测模组,所述熔池监测模组和所述成形层监测模组分别与所述上位机通信连接;所述上位机在增材制造中的样件每一层成形开始时,触发所述熔池监测模组,所述熔池监测模组接收经所述光分束器分束后的所述辐射光信号后,对所述辐射光信号进行处理,以获取增材制造过程中熔池及其边沿受热区域的过程信息;所述上位机在增材制造中的样件每一层成形完毕时,触发所述成形层监测模组,所述成形层监测模组采集并保存当前层状态下样件表面的缺陷信息;所述上位机提取并分析所述过程信息和所述缺陷信息,根据所述过程信息和所述缺陷信息实时控制所述增材制造过程中的制造参数。
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