[发明专利]红外偏振双通道光谱测量系统在审
| 申请号： | 201711033534.4 | 申请日： | 2017-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN107589076A | 公开（公告）日： | 2018-01-16 |
| 发明（设计）人： | 徐亮;胡荣;金岭;沈先春;徐寒杨;刘建国;刘文清 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/35 |
| 代理公司： | 合肥诚兴知识产权代理有限公司34109 | 代理人： | 汤茂盛 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种红外偏振双通道光谱测量系统，包括红外光源，所述的红外光源发射的光线经第一反射镜准直之后以平行光入射至干涉仪，干涉仪出射的平行干涉光经第二反射镜汇聚至样品附件再出射，第三反射镜用于将含有样品附件样品信息的干涉信号光反射至分束器，干涉信号光经分束器分为两束相互垂直的反射、透射光分别出射至第一、第二偏振器，第一、第二探测器分别用于将第一、第二偏振器的出射光束转换为电信号。同时获取样品在红外光照射下的平行谱带和垂直谱带，由此准确的计算出样品的取向程度。 | ||
| 搜索关键词： | 红外 偏振 双通道 光谱 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种红外偏振双通道光谱测量系统，包括红外光源(1)，其特征在于：所述的红外光源(1)发射的光线经第一反射镜(2)准直之后以平行光入射至干涉仪(3)，干涉仪(3)出射的平行干涉光经第二反射镜(4)汇聚至样品附件(5)再出射，第三反射镜(6)用于将含有样品附件(5)样品信息的干涉信号光反射至分束器(7)，干涉信号光经分束器(7)分为两束相互垂直的反射、透射光分别出射至第一、第二偏振器(8、9)，第一、第二探测器(12、13)分别用于将第一、第二偏振器(8、9)的出射光束转换为电信号。
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