[发明专利]一种基于现状视廊的地块限高分析系统及其分析方法有效
申请号: | 201711040113.4 | 申请日: | 2017-10-31 |
公开(公告)号: | CN107944089B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 杨天翔;陈国生 | 申请(专利权)人: | 上海市政工程设计研究总院(集团)有限公司 |
主分类号: | G06F30/13 | 分类号: | G06F30/13;G06F16/29;G06T17/05;G06T19/20;G06Q50/08;G06Q50/26 |
代理公司: | 上海世圆知识产权代理有限公司 31320 | 代理人: | 陈颖洁 |
地址: | 200092 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于现状视廊的地块限高分析系统及其分析方法,其特征在于所述系统包括以下模块:基础数据搜集模块,用于收集周边地形、现状建筑和建设地块的数据;现状视廊高度分析模块,进行现状地块高度统计、现状视廊目标解析、现状视廊高度计算,得出观察点的现状视廊控制高度;地块规划限高决策模块,由空间内任一点的空间位置读取该点的现状视廊高度作为限高,将地块边界内所有点的现状视廊高度最小值作为该地块的规划限高。本方法计算快速准确,所需数据可按常规流程搜集,在城市视廊专项控制、地块或建筑限高规划等方面有较高的应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 现状 地块 分析 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种基于现状视廊的地块限高分析系统,其特征在于所述系统包括以下模块:基础数据搜集模块,用于收集周边地形数据、建设地块数据和现状建筑数据预处理流程,将得出周边地形、现状建筑和建设地块的数据;现状视廊高度分析模块,进行现状地块高度统计、现状视廊目标解析、现状视廊高度计算,得出观察点的现状视廊控制高度;地块规划限高决策模块,由空间内任一点的空间位置读取该点的现状视廊高度作为限高,将地块边界内所有点的现状视廊高度最小值作为该地块的规划限高。
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