[发明专利]一种微波辐射计天线辐射效率测试方法及系统在审

专利信息
申请号: 201711044159.3 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107942146A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 李一楠;崔华阳;郭语;王鑫;梁丽莎;吕容川;宋广南;杨小娇;李鹏飞;卢海梁;王丛丛;李浩 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 中国航天科技专利中心11009 代理人: 张晓飞
地址: 710100 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种微波辐射计天线辐射效率测试方法及系统。首先对接收机进行定标,通过注入亮温值已知的匹配负载温度以及噪声源温度获取接收机的定标方程,通过测温手段获取辐射计天线的物理温度,最后通过辐射计观测亮温值已知的场景,求解得到天线的辐射效率。与现有方法相比,精度大大提升,能够满足辐射计系统应用需求,不但能在地面进行测量而且在辐射计在轨之后,也同样能够进行高精度的测量。该方法克服了现有地面天线测试方法的精度较差,且无法在轨测量天线辐射效率的局限性。该方法实现简单、可靠性高,具有广阔的市场应用前景。
搜索关键词: 一种 微波 辐射计 天线 辐射 效率 测试 方法 系统
【主权项】:
一种微波辐射计天线辐射效率测试方法,其特征在于步骤如下:1)定标微波辐射计接收机定标斜率和定标偏置;2)使用微波辐射计天线观测亮温值已知的场景,获得此时微波辐射计的输出电压,测量微波辐射计天线的物理温度,根据定标结果计算微波辐射计接收机端面的亮温值;3)根据已知场景的亮温值和微波辐射计接收机端面的亮温值,计算得到微波辐射计天线辐射效率。
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