[发明专利]芯片测试异常监测装置、方法、计算机设备和存储介质

摘要

本发明涉及一种芯片测试异常监测装置、方法、计算机设备和存储介质。该装置包括多串口转换模块以及交换机模块，多串口转换模块与至少一个测试芯片连接，用于将至少一个测试芯片输出接口转接至与测试芯片输出接口一一对应的并行网口，交换机模块分别与多串口转换模块和上位机连接，用于将多串口转换模块的并行网口转接至串行网口，通过串行网口与上位机进行通信。通过多串口转换模块实现并行的多路串口数据输入、高速串行的单路网口数据输出，利用一台上位机对所有芯片的串口数据进行实时监测，提高了测试芯片异常情况监测的实时性以及精确性，以便工作人员及时对异常情况进行处理，且避免了人工监测不及时或漏检的问题。

主权项

一种芯片测试异常监测装置，其特征在于，包括：多串口转换模块以及交换机模块，所述多串口转换模块与至少一个测试芯片连接，用于将所述至少一个测试芯片输出接口转接至与所述测试芯片输出接口一一对应的并行网口；所述交换机模块分别与多串口转换模块和上位机连接，用于将所述多串口转换模块的并行网口转接至串行网口，通过所述串行网口与上位机进行通信。