[发明专利]基于太鼓晶圆的晶圆级封装结构及方法有效
申请号: | 201711045692.1 | 申请日: | 2017-10-31 |
公开(公告)号: | CN107910288B | 公开(公告)日: | 2020-04-24 |
发明(设计)人: | 郑凤霞;刘路路;王腾;马书英;于大全 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683 |
代理公司: | 昆山中际国创知识产权代理有限公司 32311 | 代理人: | 段新颖 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于太鼓晶圆的晶圆级封装结构及方法,通过在使用太鼓减薄工艺减薄后的太鼓晶圆的中心部分键合一支撑晶圆,实现了对太鼓晶圆中心部分的加厚,使其可继续进行晶圆级的封装工艺。该方法也避免了使用特别的太鼓晶圆支撑环去除设备,使得太鼓晶圆的晶圆级封装在标准的封装产线中即可实现。 | ||
搜索关键词: | 基于 太鼓晶圆 晶圆级 封装 结构 方法 | ||
【主权项】:
一种基于太鼓晶圆的晶圆级封装方法,其特征在于,包括如下步骤:a)提供一太鼓晶圆,该太鼓晶圆包括背面中部被减薄到需要厚度而形成的中间减薄区和背面边缘未被减薄而形成的支撑环;b)制作一支撑晶圆,所述支撑晶圆的尺寸小于所述太鼓晶圆的支撑环的开口尺寸,所述支撑晶圆的厚度大于所述太鼓晶圆的支撑环的开口深度,在该支撑晶圆的一表面涂布粘结剂;c)将步骤b中的支撑晶圆键合固定于所述太鼓晶圆的支撑环内的中间减薄区上,使支撑晶圆与太鼓晶圆通过粘结剂连接起来;d)将步骤c后支撑晶圆进行研磨至目标厚度,并将研磨后的支撑晶圆和太鼓晶圆组成的整体进行切割,形成单颗晶圆级封装结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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