[发明专利]一种天线覆盖性能评估方法、电子设备、存储介质、系统在审
| 申请号： | 201711048115.8 | 申请日： | 2017-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN108107277A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 黄炎水;吴锦雄;林硕;谢立新 | 申请（专利权）人： | 黄炎水;吴锦雄;林硕;谢立新 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 代春兰;徐燕萍 |
| 地址： | 522000 广东省揭阳市榕城区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种天线覆盖性能评估方法，通过对测试终端进行衰耗处理，测试终端对天线面进行测试，根据天线面测试数据计算天线的实测辐射效率，根据实测辐射效率与理论辐射效率评估覆盖性能；本发明涉及一种天线覆盖性能评估系统；本发明利用由实测数据推导出的天线面峰值功率与天线馈入电功率的关系计算理论天线面峰值功率，利用由实测数据推导出的实测天线面峰值功率计算公式计算实测天线面峰值功率，根据理论天线面峰值功率和实测天线面峰值功率评估天线的覆盖面性能，本发明提出的天线面测试方法，解决了现有的常规天线测试方法无法评估天线真实覆盖性能的问题，不受周围环境影响，简单可靠，实用性强，可行性高，系统性强。 | ||
| 搜索关键词： | 天线面 峰值功率 实测 天线 辐射效率 天线覆盖 测试终端 覆盖性能 实测数据 性能评估 测试 推导 评估 电功率 性能评估系统 周围环境影响 测试数据 常规天线 存储介质 电子设备 关系计算 计算公式 覆盖面 馈入 衰耗 | ||
【主权项】：
1.一种天线覆盖性能评估方法，其特征在于包括以下步骤：衰耗处理，对测试终端进行衰耗处理；天线面测试，所述测试终端对天线面进行测试，获得天线面测试数据；覆盖性能评估，根据所述天线面测试数据计算天线的辐射效率，获得实测辐射效率，评估所述实测辐射效率与理论辐射效率，获得覆盖性能评估结果。
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