[发明专利]基于共生式磁芯环绕结构的感应热像无损检测系统有效

专利信息
申请号: 201711049347.5 申请日: 2017-10-31
公开(公告)号: CN107831214B 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 高斌;吴迎春;赵健 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01N27/90 分类号: G01N27/90;G01N25/20
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于共生式磁芯环绕结构的感应热像无损检测系统,将共生式磁芯环绕线圈检测装置放置于被测试件上方,接着打开红外热像仪与激励源,通过功率发生器运行产生交变激励电流,再将交变激励电流通过激励源输入至共生式磁芯环绕线圈检测装置,其内部线圈附近的空间会产生交变磁场,使被测试件内的磁通不断变化,在被测试件的表面或内部感应出涡流,部分涡流转化为焦耳热;另外,磁通量通过被测试件时,会因磁滞损耗产生热量来对被测试件加热,这些热量又以热波的形式在被测试件中传播,当被测试件中存在缺陷时,涡流会绕过缺陷影响热量扩散使缺陷附近热场分布异常,从而被红外热像仪捕捉记录,并上传至上位机显示。
搜索关键词: 基于 共生 式磁芯 环绕 结构 感应 无损 检测 系统
【主权项】:
一种基于共生式磁芯环绕结构的感应热像无损检测系统,包括功率发生器、红外热像仪、上位机和激励源,其特征在于,还包括一共生式磁芯环绕线圈检测装置;所述的共生式磁芯环绕线圈检测装置由处于同一水平面上且相距一定距离的两个磁芯环绕线圈构成;系统进行感应热像无损检测时,先将共生式磁芯环绕线圈检测装置放置于被测试件上方,再在共生式磁芯环绕线圈检测装置和被测试件的外围添加屏蔽罩,接着在磁芯环绕线圈内部通循环冷却水,并打开红外热像仪与激励源;利用触发信号启动功率发生器运行运行,同时启动红外热像仪记录被测试件表面的温度变化;当功率发生器运行时,产生交变激励电流,再将交变激励电流通过激励源的激励端输入至共生式磁芯环绕线圈检测装置,共生式磁芯环绕线圈检测装置中的线圈附近空间会产生交变磁场,使被测试件内的磁通不断变化,根据电磁感应原理,在被测试件的表面或内部感应出涡流,又根据焦耳定律,部分涡流将转化为焦耳热,另外,磁通量通过被测试件时,会因为磁滞损耗产生热量从而对被测试件进行加热,这些热量会以热波的形式在被测试件中传播,当被测试件中存在缺陷时,涡流会绕过缺陷,进而也影响了热量的扩散,最终导致缺陷附近热场分布异常,从而被红外热像仪捕捉记录;最后,红外热像仪采用不同的颜色与温度对应体系,将物体表面的温度分布转换为用人眼可识别的颜色图形,并上传至上位机显示。
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