[发明专利]一种功能覆盖率的全遍历方法在审
| 申请号： | 201711057127.7 | 申请日： | 2017-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN107844396A | 公开（公告）日： | 2018-03-27 |
| 发明（设计）人： | 朱思良;周强 | 申请（专利权）人： | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263;G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 功能覆盖率是可以监测仿真验证中的预期功能点是否被激励到，并且发生功能，是保证仿真验证的全面性的有效手段，通过全遍历的方法可以让设计中的功能点被完整仿真验证，并且由点到面的整体考虑，不留盲区。本发明可以在功能验证中作为辅助参考，保证验证的全面有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功能 覆盖率 遍历 方法 | ||
【主权项】：
一种功能覆盖率的全遍历方法，其特征在于，包含：a)定义基本功能覆盖率点，通过表格的方法，排除无意义的交叉功能覆盖率集合，找到有意义的交叉的功能覆盖率集合。b)互相交叉的功能覆盖率集合再次与基本功能覆盖率点交叉，通过表格来找到更进一步，有意义的功能点集合。c)不断递归调用b的方法，更进一步的功能覆盖率集合，直到无法进一步，可以确定所有功能点集合都被遍历。
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