[发明专利]半导体芯片的插塞结构、其制造方法和多芯片封装在审

专利信息
申请号: 201711057851.X 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN108022872A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 黄善宽;李镐珍;文光辰;朴炳律;安振镐;李来寅 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L23/48;H01L23/538;H01L25/065
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 弋桂芬
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种半导体芯片的插塞结构、其制造方法以及包括其的多芯片封装。该半导体芯片的插塞结构包括:基板;设置在基板上的绝缘夹层;其中绝缘夹层包括设置在其中的焊盘结构;穿过基板和绝缘夹层的通孔,其中通孔暴露焊盘结构;形成在通孔的内表面上的绝缘图案,其中绝缘图案包括掩埋部分,掩埋部分填充在通孔的内表面处在基板中设置的凹口;以及形成在通孔内在绝缘图案上的插塞,其中插塞与焊盘结构电连接。
搜索关键词: 半导体 芯片 结构 制造 方法 封装
【主权项】:
1.一种半导体芯片的插塞结构,包括:基板;设置在所述基板上的绝缘夹层,其中所述绝缘夹层包括设置在其中的焊盘结构;穿过所述基板和所述绝缘夹层的通孔,其中所述通孔暴露所述焊盘结构;形成在所述通孔的内表面上的绝缘图案,其中所述绝缘图案包括掩埋部分,所述掩埋部分填充在所述通孔的所述内表面处在所述基板中设置的凹口;以及形成在所述通孔内在所述绝缘图案上的插塞,其中所述插塞与所述焊盘结构电连接。
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