[发明专利]一种测量的光谱的方法和装置及其用途有效
| 申请号： | 201711059264.4 | 申请日： | 2017-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN107870149B | 公开（公告）日： | 2020-07-31 |
| 发明（设计）人： | 朱泽策 | 申请（专利权）人： | 武汉能斯特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G01N21/31 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430090 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测量光谱的方法：使用色散元件将光源色散为不同波长的光，并照射在样本平面上；使用图像传感器对样本平面进行拍照，记录散射光信号的图像；用图像各个像素点的灰度值代表各种波长的光强，以光强对波长作图，即得到样本平面的光谱。该方法可以用于平面状样本的光谱检测和颜色测量，其优势在于可以用于现场检测，不需要采集样本，可以一次性检测所有波长的散射光强，光谱分辨率可以精确到1nm。基于该方法的光谱仪便于做到小型化，并可以借助手机等智能硬件的图像传感器实现检测。该方法还可以用于吸收光谱的测量，并应用于光谱分析和即时检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 光谱 方法 装置 及其 用途 | ||
【主权项】：
一种测量光谱的方法，其特征在于：使用色散元件将光源色散为不同波长的光，并照射在样本平面上；使用图像传感器对样本平面进行拍照，记录散射光信号的图像；用图像各个像素点的灰度值代表各种波长的光强，以光强对波长作图，即得到样本平面的光谱；其中，样本平面指各种平面状样本的平面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉能斯特科技有限公司，未经武汉能斯特科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711059264.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
