[发明专利]测试高功率紫外激光器M2有效

专利信息
申请号: 201711059474.3 申请日: 2017-11-01
公开(公告)号: CN107870081B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 徐方华;王杰;郭丽;高云峰 申请(专利权)人: 大族激光科技产业集团股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 石佩
地址: 518051 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种测试高功率紫外激光器M2因子的检测装置,包括激光器调节座、光路衰减系统和M2因子测量仪;检测装置还包括第一小孔光阑、第二小孔光阑、第一全反镜和第二全反镜,第一小孔光阑和第二小孔光阑可拆卸地设置于光路衰减系统中,第一全反镜和第二全反镜的反射面相对设置,且可相对转动。通过第一小孔光阑和第二小孔光阑可以将光路衰减系统的光路配制为可供M2因子测量仪进行M2因子的状态,这样在对激光器进行批量测试时,可以不用调整光路衰减系统,仅通过激光器调节座以及第一全反镜和第二全反镜调整激光器的激光出射方向,使光束同时穿出第一小孔光阑和第二小孔光阑,就完成了待测激光器与M2因子测量仪之间对光调试,以提高检测效率。
搜索关键词: 测试 功率 紫外 激光器 base sup
【主权项】:
一种测试高功率紫外激光器M2因子的检测装置,其特征在于,包括激光器调节座、光路衰减系统和M2因子测量仪;所述激光器调节座用于调节待测激光器的激光出射方向,以将待测激光器的激光经所述光路衰减系统传输至所述M2因子测量仪进行M2因子测试;所述检测装置还包括第一小孔光阑、第二小孔光阑、第一全反镜和第二全反镜,所述第一小孔光阑和所述第二小孔光阑可拆卸地设置于所述光路衰减系统中,用于校准待测激光器的激光经所述光路衰减系统传输至所述M2因子测量仪的光路;所述第一全反镜和第二全反镜的反射面相对设置,且可相对转动,以对待测激光器的激光入射所述光路衰减系统的方向进行调节。
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