[发明专利]用于测试插入点的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201711061532.6 申请日: 2017-11-02
公开(公告)号: CN108061851B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: W·普拉迪普 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 赵志刚;赵蓉民
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请公开了用于测试插入点的方法和装置。描述的示例包括向组合电路提供K位的测试数据(902)的方法。该方法进一步包括使用组合电路生成N位的测试数据,其中N大于K(904)。该方法进一步包括向被测模块提供N位的测试数据(906)。
搜索关键词: 用于 测试 插入 方法 装置
【主权项】:
1.一种集成电路,其包括:K个存储元件,其用于存储具有K位的测试数据,所述存储元件具有经配置以提供所述K位中的一个的输出;组合网络,其具有耦合到所述K个存储元件中的一个输出的K个输入,所述组合网络经配置以在N个输出上提供N个输出位,所述N个输出位来源于所述K位,其中N大于K;多路复用器,其具有耦合到第一模块的输出的第一N个输入以及第二N个输入,所述第二N个输入耦合到所述组合网络的N个输出,所述多路复用器具有N个输出,并且选择性地在所述N个输出上提供所述第一N个输入和所述第二N个输入上的数据;以及第二模块,其具有耦合到所述多路复用器的所述N个输出的N个输入。
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