[发明专利]两级台面铟镓砷/铟磷雪崩光电二极管及其制备方法在审
申请号: | 201711064990.5 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN107768462A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 谢生;朱帅宇;毛陆虹 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/107;H01L31/18 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明属于光电检测以及图像传感器领域,为实现在保证器件中心区域高电场的同时,抑制边缘电场,降低器件暗电流,为产业应用提供参考依据。本发明,两级台面铟镓砷/铟磷雪崩光电二极管及其制备方法,结构包括N+‑InP衬底、N‑InP缓冲层、N‑‑铟镓砷In0.53Ga0.47As吸收层、N‑铟镓砷磷In(1‑x)GaxAsyP(1‑y)组分渐变层、N‑InP电荷层、i‑InP倍增层、P‑InP电场缓冲层以及P+‑InP接触层;其中,P‑InP电场缓冲层经刻蚀形成了浅台面,N‑InP缓冲层经刻蚀形成了深台面,光生载流子在倍增层内不断碰撞电离,引发雪崩倍增。本发明主要应用于光电检测、光电传感器设计场合。 | ||
搜索关键词: | 两级 台面 铟镓砷 雪崩 光电二极管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种两级台面铟镓砷/铟磷雪崩光电二极管,其特征是,结构包括N+‑InP衬底、N‑InP缓冲层、N‑‑铟镓砷In0.53Ga0.47As吸收层、N‑铟镓砷磷In(1‑x)GaxAsyP(1‑y)组分渐变层、N‑InP电荷层、i‑InP倍增层、P‑InP电场缓冲层以及P+‑InP接触层;其中,P‑InP电场缓冲层经刻蚀形成了浅台面,N‑InP缓冲层经刻蚀形成了深台面,In0.53Ga0.47As吸收层接收入射光子能量,产生电子空穴对,组分渐变层降低因InP与InGaAs材料的价带差异而引入的空穴势垒,电荷层调节倍增层和吸收层之间的电场分布,保证倍增层有较高的电场,光生载流子在倍增层内不断碰撞电离,引发雪崩倍增。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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