[发明专利]一种InAs/GaSb超晶格红外探测器及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201711065363.3 申请日: 2017-11-02
公开(公告)号: CN108133970B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 杨晓杰;刘永峰;张传杰;谭必松;周文洪;黄立 申请(专利权)人: 武汉高芯科技有限公司
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张强
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种InAs/GaSb超晶格红外探测器及其制作方法,针对现有技术中,在外延生长数百周期InAs/GaSb超晶格材料时,InAs与GaSb之间存在晶格失配,累积的应力导致InAs/GaSb超晶格材料中形成大量的生长缺陷的问题,本发明提出一种两步Sb浸润的方法,在生长InAs层之后先沉积一层Sb,形成富Sb表面,然后沉积In,之后再沉积一层Sb,使In与Sb充分反应,形成高质量的InSb界面层,以此平衡和消除InAs与GaSb之间的应力,提高InAs/GaSb超晶格材料的质量。同时,本发明在InAs/GaSb超晶格结构和GaSb衬底之间引入AlAsSb牺牲层,实现了衬底的无损剥离。
搜索关键词: 一种 inas gasb 晶格 红外探测器 及其 制作方法
【主权项】:
一种InAs/GaSb超晶格红外探测器,包括InAs/GaSb超晶格结构,所述InAs/GaSb超晶格结构包括交替生长的GaSb层、InAs层,其特征在于,在所述GaSb层与InAs层之间包括InSb界面层,位于InAs层上表面的所述InSb界面层包括两层Sb浸润层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉高芯科技有限公司,未经武汉高芯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711065363.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top