[发明专利]一种InAs/GaSb超晶格红外探测器及其制作方法有效
申请号: | 201711065363.3 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN108133970B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 杨晓杰;刘永峰;张传杰;谭必松;周文洪;黄立 | 申请(专利权)人: | 武汉高芯科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张强 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种InAs/GaSb超晶格红外探测器及其制作方法,针对现有技术中,在外延生长数百周期InAs/GaSb超晶格材料时,InAs与GaSb之间存在晶格失配,累积的应力导致InAs/GaSb超晶格材料中形成大量的生长缺陷的问题,本发明提出一种两步Sb浸润的方法,在生长InAs层之后先沉积一层Sb,形成富Sb表面,然后沉积In,之后再沉积一层Sb,使In与Sb充分反应,形成高质量的InSb界面层,以此平衡和消除InAs与GaSb之间的应力,提高InAs/GaSb超晶格材料的质量。同时,本发明在InAs/GaSb超晶格结构和GaSb衬底之间引入AlAsSb牺牲层,实现了衬底的无损剥离。 | ||
搜索关键词: | 一种 inas gasb 晶格 红外探测器 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种InAs/GaSb超晶格红外探测器,包括InAs/GaSb超晶格结构,所述InAs/GaSb超晶格结构包括交替生长的GaSb层、InAs层,其特征在于,在所述GaSb层与InAs层之间包括InSb界面层,位于InAs层上表面的所述InSb界面层包括两层Sb浸润层。
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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