[发明专利]一种多晶硅还原炉在审

专利信息
申请号: 201711067662.0 申请日: 2017-11-03
公开(公告)号: CN107720756A 公开(公告)日: 2018-02-23
发明(设计)人: 张宝顺;宗冰;吉红平;何乃栋;陈聪;王体虎 申请(专利权)人: 亚洲硅业(青海)有限公司
主分类号: C01B33/035 分类号: C01B33/035
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 代理人: 刘振
地址: 810007 青海省*** 国省代码: 青海;63
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摘要: 发明公开了一种多晶硅还原炉,包括有炉体、底盘和电极,还原炉的内部分成热气流层、晶硅生长区及冷气流层三个区域,冷气流层位于还原炉的底部,其与底盘相接;在底盘设置有氢气喷嘴,通过氢气喷嘴朝还原炉喷射氢气气流形成冷气流层;热气流层位于还原炉的顶部,热气流层底部与硅棒顶部的距离为100‑500mm。本发明具有以下优点第一,多晶硅硅棒高度低于还原炉顶部热气流层,避免硅棒暴露在顶部热气流层而导致硅棒横梁熔断、生长菜花料;第二,多晶硅生长区气相及多晶硅棒温度均保持在适合物料反应、沉积的温度,可以产出具有高品质的多晶硅整棒;第三,冷气流层可使还原炉底部始终保持在低温状态,阻止物料沉积在磁环、石墨底座及电极上。
搜索关键词: 一种 多晶 还原
【主权项】:
一种多晶硅还原炉,包括有炉体、底盘和电极,炉体安装于底盘上,电极位于炉体中并安装于底盘上,底盘上设置有进气口和出气口,硅棒生长于电极上,其特征在于:通过对炉体高度参数及炉体内部温度参数的控制,将该还原炉的内部分成热气流层、晶硅生长区及冷气流层三个区域,其中,冷气流层位于还原炉的底部,其与底盘相接;冷气流层由自底盘朝上喷出的氢气气流形成,在底盘设置有若干氢气喷嘴,氢气喷嘴对接有氢气供气机构,通过氢气喷嘴朝还原炉喷射氢气气流将冷气流层的温度控制在200‑600℃之间;通过氢气喷嘴喷出的氢气将富集在底盘表面的硅粉保持在流化状态,处于流化状态的硅粉以其更大的表面积充当热反射载体,对炉体内部的热量进行反射补充而降低还原炉热量的损失;热气流层位于还原炉的顶部,热气流层通过将还原炉顶部与硅棒顶部的距离设置为1000‑1500mm,而形成热气流层底部与硅棒顶部的距离为100‑500mm,形成硅棒远离热气流层的结构;晶硅生长区位于热气流层与冷气流层之间,硅棒生长于该晶硅生长区内,晶硅生长区的气相温度控制为800‑900℃。
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