[发明专利]一种近红外光电探测器及其制备方法在审
申请号: | 201711070851.3 | 申请日: | 2017-11-03 |
公开(公告)号: | CN107863402A | 公开(公告)日: | 2018-03-30 |
发明(设计)人: | 张晗;王慧德;郭志男 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/0392;H01L31/09;H01L31/18;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司44202 | 代理人: | 郝传鑫,熊永强 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种近红外光电探测器,包括基底、依次设置在基底表面上的隔离层和光吸收层、以及设置在光吸收层相对的两端且分别与光吸收层接触的源极和漏极,源极和漏极之间形成的沟道结构暴露出部分光吸收层,光吸收层的材料包括β‑InSe纳米薄片。所述光电探测器具有很高的近红外光响应度和环境稳定性。本发明还提供了一种近红外光电探测器的制备方法,包括提供β‑InSe单晶块,将β‑InSe单晶块粘到胶带上,反复撕胶带10‑20次,得到β‑InSe纳米薄片,将β‑InSe纳米薄片转移到隔离层上,形成光吸收层;在β‑InSe纳米薄片上方以及未被β‑InSe纳米薄片覆盖的隔离层上方旋涂光刻胶,经曝光和显影后,形成电极图案;沉积电极材料,随后采用有机溶剂剥离光刻胶,形成源极和漏极。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种近红外光电探测器,其特征在于,包括:基底、依次设置在所述基底表面上的隔离层和光吸收层、以及设置在所述光吸收层相对的两端且分别与所述光吸收层接触的源极和漏极,所述源极和所述漏极之间形成的沟道结构暴露出部分所述光吸收层,所述光吸收层的材料包括β‑InSe纳米薄片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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