[发明专利]一种自动触发测试的方法和电路在审

专利信息
申请号: 201711072432.3 申请日: 2017-11-04
公开(公告)号: CN107918301A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 段松涛;戴昭君 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G05B19/04 分类号: G05B19/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种自动触发测试的方法和电路,特别适用于在测试设备上实现多联张非接触智能卡自动触发测试的方法和电路,当多联张卡放置到指定位置时,通过多个纸张传感器检测到多联张卡的出现,将各自产生的电信号通过逻辑与电路传送给控制器,通知控制器开始测试;当多联张卡测试完毕离开指定位置时,多个张传感器检测到多联张卡离开时,将各自产生的电信号通过逻辑或电路传送给控制器,通知控制器本张多联张卡测试完毕,准备下一张的测试。本发明能够自动检测多联张卡是否放置到指定位置并通知控制器开始测试,减少误判,减少人为操作,提高测试速度。
搜索关键词: 一种 自动 触发 测试 方法 电路
【主权项】:
一种自动触发测试的方法,其特征在于,主要包括如下步骤:1)当多联张卡放置到指定位置时,通过纸张传感器检测到多联张卡的出现,将各自产生的电信号通过反向电路和逻辑与运算电路传送给控制器;2)当多联张卡没有完全放置到指定位置时,逻辑与电路输出不变,控制器检测不到电平跳变,不会进行开始测试操作;当多联张卡放置到指定位置时,逻辑与电路输出电平跳变,控制器检测到电平跳变,开始测试操作;3)当多联张卡测试完毕离开指定位置时,纸张传感器检测到多联张卡离开时,将各自产生的电信号通过反向和逻辑或电路传送给控制器,当多联张卡没有完全离开指定位置时,逻辑或电路输出不变,控制器检测不到电平跳变。4)当多联张卡完全离开指定位置时,所有的纸张传感器检测到多联张卡离开时,逻辑或电路输出电平跳变,通知控制器本张多联张卡测试完毕。
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