[发明专利]一种荧光分子断层成像目标可行域选取方法有效

专利信息
申请号: 201711078146.8 申请日: 2017-11-06
公开(公告)号: CN108095686B 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 贺小伟;胡跃林;易黄建;侯榆青;王宾;赵凤军;曹欣 申请(专利权)人: 西北大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 西安长和专利代理有限公司 61227 代理人: 黄伟洪;李霞
地址: 710127 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明属于分子影像技术领域,公开了一种荧光分子断层成像目标可行域选取方法,其内容包括:全域重建;使用迭代自组织数据分析技术算法选取可行域;在可行域上重建荧光目标,若重建质量不满足要求,跳转到迭代自组织数据分析技术算法选取可行域,否则显示最终重建结果并结束重建。本发明适用于重建多目标荧光源的光学分子断层成像系统,需要的荧光测量数据少,采用迭代自组织数据分析技术算法分区选择可行域,提高了多目标重建中可行域选取的准确性。本发明通过多阶段重建,降低了重建问题的病态性,有效提高了荧光分子断层成像的重建质量,在光学断层三维重建算法等领域有重要的应用价值。
搜索关键词: 一种 荧光 分子 断层 成像 目标 可行 选取 方法
【主权项】:
1.一种荧光分子断层成像目标可行域选取方法,其特征在于,所述荧光分子断层成像目标可行域选取方法包括:在全域上重建多个荧光目标;利用迭代自组织数据分析技术算法处理重建结果,分离重建目标后分区选取可行域;在可行域上重建荧光目标,若重建质量不满足要求则跳转到上一步,否则显示最终重建结果并结束重建。
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