[发明专利]一种银纳米材料颗粒尺寸及其含量的测定方法

摘要

本发明公开了一种银纳米材料颗粒尺寸及其含量的测定方法，包括以下步骤：1)银纳米材料粒径测定工作曲线的绘制；2)银纳米材料粒子含量工作曲线绘制；3)银纳米材料颗粒粒径的实时测定；4)银纳米材料粒子含量的实时测定。根据本发明，对于现代化生产装置，可以在装置上直接设计安装紫外探测设备，通过数据自动传输，生产控制人员在控制室可以直接观察现场生产的即时数据，为生产工艺的调控提供重要依据。

主权项

1.一种银纳米材料颗粒尺寸及其含量的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：1)银纳米材料粒径测定工作曲线的绘制通过实验合成不同尺寸的银纳米粒子绘制银纳米粒子颗粒粒径与其特征吸收波长的关系曲线：采用液相还原法制备不同粒径的银纳米粒子，分别配成一定浓度的胶体溶液，测定其紫外‑可见光吸收曲线，记录最大吸收波长；同时采用透射电镜测定粒子的粒径，以最大吸收波长为横坐标、粒径为纵坐标绘制粒径与最大吸收波长的关系曲线，得到粒径测定工作曲线；或者利用已知不同尺寸的银纳米粒子绘制出银纳米粒子颗粒粒径与其特征吸收波长的关系曲线；2)银纳米材料粒子含量工作曲线绘制取已知粒径的银纳米颗粒，配成不同浓度的胶体分散液，测定其紫外‑可见光吸收曲线，记录最大吸收波长处的峰高，以吸收峰高为横坐标、粒子浓度为纵坐标绘制粒子含量与最大吸收峰高的关系曲线，得到粒子含量测定的工作曲线；3)银纳米材料颗粒粒径的实时测定从正在进行银纳米材料合成反应的反应液取样，测定样品的紫外‑可见光吸收曲线，记录最大吸收波长，根据步骤1)已得到的粒径测定工作曲线，经数据处理，即可实时得到纳米粒子的粒径；4)银纳米材料粒子含量的实时测定从正在进行银纳米材料合成反应的反应液取样，定样品的紫外‑可见光吸收曲线，记录最大吸收波长处的峰高，根据步骤2)银纳米粒子浓度工作曲线，经数据处理，即可实时得到反应釜中纳米粒子的含量。