[发明专利]一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统有效
| 申请号： | 201711084036.2 | 申请日： | 2017-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN108038878B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 郑顺义;朱锋博;王晓南 | 申请（专利权）人： | 武汉中观自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/62 | 分类号： | G06T7/62;G06T7/70 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 杨立;李蕾 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖高新技*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法和系统，其方法包括以下步骤：提取标志点在一张图像中成像的亚像素边缘点，并进行椭圆拟合，得到成像点；根据对极几何关系并结合成像点，找出标志点在其他多张图像上成像的同名点；采用鲁棒的平面拟合方法对多个同名点进行拟合得到拟合平面，通过拟合平面解算出标志点的法向量，并得到滤除噪声后的同名点；对滤除噪声后的同名点进行圆拟合，得到标志点的半径。采用本发明一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法可以提高标志点的法向和半径的计算精度，使计算结果更加接近于真实效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 确定 摄影 测量 标志 半径 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种确定摄影测量中标志点的法向及半径的方法，其特征在于：包括以下步骤：S1，提取标志点在一张图像中成像的亚像素边缘点，并进行椭圆拟合，得到成像点；S2，根据对极几何关系并结合成像点，找出标志点在其他多张图像上成像的同名点；S3，采用鲁棒的平面拟合方法对多个同名点进行拟合得到拟合平面，通过拟合平面解算出标志点的法向量，并得到滤除噪声后的同名点；S4，对滤除噪声后的同名点进行圆拟合，得到标志点的半径。
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