[发明专利]太阳能电池低表面磷源浓度扩散方法在审
申请号: | 201711084940.3 | 申请日: | 2017-11-07 |
公开(公告)号: | CN107910256A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 王森栋;白翔;梁玲 | 申请(专利权)人: | 山西潞安太阳能科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/223 | 分类号: | H01L21/223;H01L21/225;H01L31/18 |
代理公司: | 太原市科瑞达专利代理有限公司14101 | 代理人: | 李富元 |
地址: | 046000 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及太能电池领域,特别涉及太阳能电池硅片磷扩散领域。太阳能电池低表面磷源浓度扩散方法,第一步沉积沉积过程,沉积过程采用恒温沉积;第二步沉积沉积过程,沉积过程采用升温沉积;第三步沉积沉积过程,沉积过程采用升温沉积。本发明采用三步沉积,并且在沉积过程中同时减少氧气增加磷源的通量,在沉积的同时进行氧化,在硅片表面形成氧化层使磷源在硅片表面充分堆积,在降低表面掺杂浓度的同时保证方阻的偏差范围满足需求。这样在推进时氧化层可有效的减少表面死层,并且在沉积过程,使磷源通量递增,改善方阻均匀性。 | ||
搜索关键词: | 太阳能电池 表面 浓度 扩散 方法 | ||
【主权项】:
太阳能电池低表面磷源浓度扩散方法,其特征在于:在沉积过程采用三步沉积第一步沉积:沉积过程,保持氧气流量700‑1000sccm、氮气流量5‑10slm、三氯化氧磷流量600‑800sccm、沉积时间4‑6min、温度750‑800℃;第二步沉积:沉积过程,在第一步沉积的参数的基础上,氧气流量减少100 sccm,氮气流量和三氯化氧磷流量保持不变,沉积时间增加1 min,温度按照恒定速率在第二步沉积时间内升高10℃;第三步沉积:沉积过程,在第二步沉积的参数的基础上,氧气流量减少100 sccm,氮气流量不变,三氯化氧磷流量提高100 sccm,时间增加3 min,温度按照恒定速率在第二步沉积时间内升高5℃。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造