[发明专利]一种高精度瞬时微波频率测量装置

摘要

本发明公开了一种高精度瞬时微波频率测量装置，包括第一激光二极管、第二激光二极管、波分复用器、光学相位调制器、解复用器、第一光电探测器、第二光电探测器；基于光学相位调制的瞬时微波频率测量技术，主要分为三个过程：微波信号通过相位调制加载到两种不同波长的光波上，通过色散光纤的衰减作用，最后利用光电探测器进行信号解调；本发明解决了基于马赫‑泽德调制器的微波频率测量系统中的控制电路太过复杂和偏置漂移问题，同时根据探测到的射频功率比值来判定未知微波信号的频率，提高了测量系统的稳定性和测量精度，使得测量装置简单有效。

主权项

一种高精度瞬时微波频率测量装置，其特征在于，包括第一激光二极管、第二激光二极管、波分复用器、光学相位调制器、解复用器、第一光电探测器、第二光电探测器；所述第一激光二极管和所述第二激光二极管，用于产生两种不同波长的光学载波；所述波分复用器，与所述第一激光二极管和所述第二激光二极管相连，用于将所述第一激光二极管和所述第二激光二极管所产生的两种不同波长的光学载波耦合成为一束光学载波，沿着单根色散光纤传输；所述光学相位调制器，与所述波分复用器相连，用于将待测微波信号调制到在单根色散光纤上传播的两束光学载波上；所述解复用器，与所述光学相位调制器相连，用于将光学相位调制器调制的两种不同波长的光学载波分离；所述第一光电探测器和第二光电探测器，与所述解复用器相连，用于将两种不同的光信号转化为两路电信号，并将所述电信号送入后续数据处理。