[发明专利]基于探测器响应特性的成像系统校准方法及成像校正方法有效
申请号: | 201711090136.6 | 申请日: | 2017-11-08 |
公开(公告)号: | CN107607982B8 | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 刘建强;王土生 | 申请(专利权)人: | 江苏康众数字医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16;G01T7/00 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫;汪青 |
地址: | 215028 江苏省苏州市工业园区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于探测器响应特性的成像系统校准方法及成像校正方法,该方法通过提前对探测器的自身响应进行校准,使射线分布特性尽可能分离,并将探测器的自身响应的参数进行保存;当成像系统更换新的射线源或当前成像系统的几何布局发生较大改变时,平板探测器使用者只需针对成像系统的射线分布进行校准;最后在正常曝光时,根据探测器的自身响应参数和射线分布系数进行图像的校正。本发明考虑了探测器的自身响应和射线分布的影响,既简化了成像系统在实际使用时的校准过程,又能得到较好的校正图像的图像质量。 | ||
搜索关键词: | 基于 探测器 响应 特性 成像 系统 校准 方法 校正 | ||
【主权项】:
1.一种基于探测器响应特性的成像系统校准方法,其特征在于,所述成像系统包括射线源和探测器,所述校准方法应用于更换新的射线源的成像系统,或者应用于几何布局发生改变的成像系统,所述系统校准方法包括:/n根据预获取的探测器自身响应特性,加载探测器响应参数,所述探测器响应参数包括偏置响应参数和增益响应参数,所述增益响应参数不随更换新的射线源或几何布局发生改变而改变;/n为当前系统设置射线质量,并选取曝光参数,采集一张或多张曝光图像,得到平均曝光图像,所述当前系统为更换新的射线源之后的成像系统,或者几何布局发生改变之后的成像系统;/n根据所述偏置响应参数,对所述平均曝光图像进行偏置校正;/n对偏置校正后的图像进行灰度值归一化操作;/n根据所述增益响应参数,对图像进行探测器增益响应的校正;/n对完成探测器增益响应的校正后的图像进行曲面拟合,得到当前系统的归一化射线分布系数,完成对实际成像系统的校准。/n
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