[发明专利]一种二进制LDPC码的低时延环检测方法有效
申请号: | 201711092578.4 | 申请日: | 2017-11-08 |
公开(公告)号: | CN107947800B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 马克祥;田辉;马建;石紫峰 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司电子科学研究院 |
主分类号: | H03M13/11 | 分类号: | H03M13/11 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 于金平 |
地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
本发明公开了一种二进制LDPC码的低时延环检测方法,根据第k |
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搜索关键词: | 一种 二进制 ldpc 低时延环 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种二进制LDPC码的低时延环检测方法,其特征在于,包括:根据第k0次迭代和第k次迭代的硬判决向量,其中0<k0≤k,判断第k0次迭代和第k次迭代间是否出现环特征;若所述第k0次迭代和第k次迭代间出现环特征,则在获得第k次迭代的位置向量的过程中,根据翻转次数的奇偶性,判断是否出现环;所述在获得第k次迭代的位置向量的过程包括:通过将当前迭代翻转向量中的所有翻转位置元素与前一次迭代翻转向量中的所有翻转位置元素进行比较获得所述位置向量。
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