[发明专利]一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法有效
申请号: | 201711092964.3 | 申请日: | 2017-11-08 |
公开(公告)号: | CN107748826B | 公开(公告)日: | 2018-09-25 |
发明(设计)人: | 叶雪荣;陈昊;郑博恺;赵建立;陈秋影;翟国富 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 哈尔滨龙科专利代理有限公司 23206 | 代理人: | 高媛 |
地址: | 150000 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法,属于继电器产品性能分析技术领域。根据继电器设计参数建立其触簧系统振动仿真模型;对触簧系统进行贮存退化试验,基于应力松弛理论建立触簧系统的贮存退化模型;将贮存退化模型进行离散化,并据此修改仿真模型实现触簧系统贮存退化注入,计算得到常闭触点间预压力值的退化情况;对实现退化注入的触簧系统振动仿真模型进行模态分析与频率响应分析,确定其谐振频率及对应接触力响应值的退化情况;比较对应于不同贮存时间的预压力值与接触力响应值,判断继电器的耐力学性能是否满足要求,实现继电器耐力学性能贮存退化分析。本发明能够解决在设计阶段无法给出长贮过程中继电器耐力学性能变化情况的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 继电器 耐力 性能 贮存 退化 分析 方法 | ||
【主权项】:
1.一种继电器耐力学性能贮存退化分析方法,其特征在于:它包括以下步骤:步骤一:根据继电器的设计参数建立继电器触簧系统振动仿真模型;步骤二:对触簧系统进行贮存退化试验,监测其试验过程中不同时刻的应力松弛程度数据;步骤三:根据步骤二获取的试验数据,基于应力松弛理论建立触簧系统的贮存退化模型;步骤四:将步骤三所得到的触簧系统贮存退化模型进行离散化,得到对应于不同贮存时间t的触簧系统应力松弛程度D(t);步骤五:按照步骤四所得到的应力松弛程度D(t)对步骤一中所建立的触簧系统振动仿真模型进行修改,得到对应于贮存时间t的触簧系统振动仿真模型,实现触簧系统贮存退化的注入并计算触簧系统常闭触点间的预压力值;步骤六:对步骤五中获取的多个触簧系统振动仿真模型进行模态分析,确定对应于贮存时间t的触簧系统仿真模型的谐振频率;步骤七:对步骤五中获取的多个触簧系统振动仿真模型进行频率响应分析,确定对应于贮存时间t的触簧系统仿真模型在谐振频率下的接触力响应值;步骤八:对比步骤五所获取的预压力值与步骤七所得到的接触力响应值,判断贮存时间t时继电器的耐力学性能是否满足要求。
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