[发明专利]测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法有效
申请号: | 201711095982.7 | 申请日: | 2017-11-09 |
公开(公告)号: | CN107884095B | 公开(公告)日: | 2019-12-10 |
发明(设计)人: | 王磊 | 申请(专利权)人: | 无锡华润矽科微电子有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 31002 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 214135 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法,所述的测温装置还包括外部基准电阻和外部测量电阻,其中,所述的测温装置中的自动校准电路结构包括自动校准主控模块、测量模块、内部数据寄存模块、比较器模块、移位寄存模块和选择器模块,采用上述模块的相互连接,并采用实现测温装置的自动校准的方法,实现对所述的测温装置的校准。采用该测温装置中的自动校准电路结构及自动校准方法,能够通过对基准振荡次数的调整,在不更换基准电阻的基础上满足对所述的测温装置的校准,使测量的精度达到制造标准,有效提高效率、降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 测温 装置 中的 自动 校准 电路 结构 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测温装置中的自动校准电路结构,所述的测温装置还包括外部基准电阻和外部测量电阻,其特征在于,所述的自动校准电路结构包括自动校准主控模块、测量模块、内部数据寄存模块、比较器模块、移位寄存模块和选择器模块:/n所述的自动校准主控模块分别与外部电源、所述的比较器模块和移位寄存模块相连接,输出启动自动检测信号至所述的比较器模块和移位寄存模块,并接收所述的移位寄存模块所输出的停止检测信号,用于设定所述的自动校准电路结构是否进入校准模式;/n所述的测量模块与所述的外部基准电阻、外部测量电阻和内部数据寄存模块相连接,用于系统预置的测试环境温度实验时,以系统预置的振荡次数与温度的对应表为依据,存储所述的外部基准电阻对应的预置基准振荡次数X
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