[发明专利]PCB产品的过程管控方法和系统在审
| 申请号： | 201711098243.3 | 申请日： | 2017-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN108037739A | 公开（公告）日： | 2018-05-15 |
| 发明（设计）人： | 刘文敏;李学喆;邱勇萍;李文杰;宫立军 | 申请（专利权）人： | 广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G05B19/418 | 分类号： | G05B19/418;G06F17/30 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 周清华 |
| 地址： | 510663 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种PCB产品的过程管控方法和系统。所述方法包括：根据历史缺陷信息构建缺陷库，缺陷库中的信息包括多条缺陷记录，每条缺陷记录包括缺陷名称、缺陷情况信息、缺陷产生站点、缺陷侦测站点以及缺陷产生机理。检测PCB产品生产过程时，在每个站点检测产生的缺陷事件信息，缺陷事件信息包括缺陷情况信息、缺陷侦测站点以及缺陷产生站点；根据缺陷事件信息查询所述缺陷库，得到缺陷事件对应的缺陷记录；根据缺陷记录中的缺陷产生机理信息，生成针对缺陷事件的管控指令，根据管控指令管控所述PCB产品生产过程中的缺陷事件。无需根据人经验判断，提高PCB产品生产过程中管控的准确性以及全面性，进而从根本上消除生产PCB产品过程中的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 产品 过程 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种PCB产品的过程管控方法，其特征在于，包括：获取PCB产品的历史缺陷信息，根据所述历史缺陷信息构建缺陷库；所述缺陷库中的信息包括多条缺陷记录，每条缺陷记录包括缺陷名称、缺陷情况信息、缺陷侦测站点、缺陷产生站点以及缺陷产生机理；检测PCB产品生产过程时，在每个站点检测产生的缺陷事件信息，所述缺陷事件信息包括缺陷情况信息、缺陷侦测站点以及缺陷产生站点；根据所述缺陷事件信息查询所述缺陷库，得到缺陷事件对应的缺陷记录；根据所述缺陷记录中的缺陷产生机理信息，生成针对所述缺陷事件的管控指令，根据所述管控指令管控所述PCB产品生产过程中的缺陷事件。
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