[发明专利]一种高聚物光学解偏振仪在审
申请号: | 201711098593.X | 申请日: | 2017-11-09 |
公开(公告)号: | CN107764746A | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 杨波;杨定海;陆建忠 | 申请(专利权)人: | 上海凯历迪新材料科技股份有限公司;上海东华凯利新材料科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21;G01N21/01 |
代理公司: | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)32257 | 代理人: | 王东伟 |
地址: | 200135 上海市浦东新区自由贸*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明是关于一种高聚物光学解偏振仪,包括全自动闭环光路检测系统、信号采集变换系统和多级控制反馈系统。全自动闭环光路检测系统包括信号光源、聚光镜、滤色片结构、起偏镜、结晶炉、半透半反镜、第一硅光电池及第二硅光电池。第一硅光电池用于将经半透半反镜透射的光信号转换成第一电信号;第二硅光电池用于将经半透半反镜反射的光信号转换成第二电信号。信号采集变换系统与第一硅光电池连接,将第一电信号转换成数字信号传输至计算机,得出高聚物样品结晶速度数据。多级控制反馈系统分别与第二硅光电池、信号光源连接,调节第二电信号强弱,控制光源的发光强度。本发明主要用于减小高聚物光学解偏振仪的体积,提高测量系统的稳定性和精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 高聚物 光学 偏振 | ||
【主权项】:
一种高聚物光学解偏振仪,其特征在于,所述高聚物光学解偏振仪包括:全自动闭环光路检测系统,所述全自动闭环光路检测系统包括信号光源、滤色片结构、起偏镜、结晶炉、半透半反镜、第一硅光电池及第二硅光电池;其中,所述信号光源所发出的光经滤色片、起偏镜后,照射至所述结晶炉中高聚物样品上,且透射过高聚物样品的透射光经过所述半透半反镜;所述第一硅光电池用于将经所述半透半反镜透射的光信号转换成第一电信号;所述第二硅光电池用于将经所述半透半反镜反射的光信号转换成第二电信号;信号采集变换系统,所述信号采集变换系统与所述第一硅光电池电连接,用于将所述第一电信号转换成数字信号,能将数字信号传输至计算机,以使计算机专业软件得出高聚物样品结晶速度数据;多级控制反馈系统,所述多级控制反馈系统分别与所述第二硅光电池、光源连接,用于自动调节所述第二电信号强弱,控制所述信号光源的发光强度。
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