[发明专利]物品检测方法和装置有效
申请号: | 201711104552.7 | 申请日: | 2017-11-10 |
公开(公告)号: | CN109765548B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
发明(设计)人: | 张兆宇;底欣;奥琛 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G01S13/88 | 分类号: | G01S13/88;G01V3/12 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 陶海萍 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例提供一种物品检测方法和装置,其中,该方法包括:收发单元和待检测物品沿预定轨迹相对移动,该收发单元发送发射信号,并且接收基于该发射信号的反射信号;对该反射信号进行处理,以获得至少一种物品的反射信号第一特性的测试信号序列;将该测试信号序列与不同物品对应的信号序列样本集中的样本信号序列进行比较,以确定该待检测物品中所包含的物品;其中,该信号序列样本集中的每个样本是对预先获得的信号序列进行数据切割所获得的一种物品反射信号第一特性的样本信号序列。通过本实施例的上述方法,根据经过数据切割处理后的样本信号序列与测试信号序列进行比较,能够进一步提高检测精度,并且还能够实现对包含多种待检测物品的混合物品的检测。 | ||
搜索关键词: | 物品 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种物品检测装置,其中,所述装置包括:收发单元,其用于发送发射信号,并且接收基于所述发射信号的反射信号;控制单元,其用于控制收发单元和/或待检测物品沿预定轨迹相对移动;第一处理单元,其用于对所述反射信号进行处理,以获得至少一种物品反射信号第一特性的测试信号序列;第二处理单元,其用于将所述测试信号序列与不同物品对应的信号序列样本集中的样本信号序列进行比较,以确定所述待检测物品中所包含的物品;其中,所述信号序列样本集中的每个样本是对预先获得的信号序列进行数据切割后所获得的一种物品反射信号第一特性的样本信号序列。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711104552.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。