[发明专利]液晶盒测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201711110804.7 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107942546A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 向勇;骆志锋 申请(专利权)人: 深圳同兴达科技股份有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司44384 代理人: 谭雪婷,高早红
地址: 518000 广东省深圳市龙华新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种液晶盒测试系统及测试方法,液晶盒测试系统包括主控系统以及与所述主控系统连接的进料装置、定位系统、发光装置、探针测试装置、画面获取装置、第一机械手、第二机械手、第三机械手。本发明对液晶盒采用自动化测试,采用定位装置自动将探针与测试点对位,并且有定位判定装置对定位是否合格进行判断,定位更加准确、可靠,解决了人工对位错位造成液晶盒损坏的问题;节省人力,消除了员工的视觉疲劳,并且大大提高了测试效率,解决了液晶盒测试产能不足的问题;本发明中的探针测试装置可拆卸,因而能够根据不同型号的液晶盒更换对应的探针,非常实用。
搜索关键词: 液晶 测试 系统 方法
【主权项】:
一种液晶盒测试系统及测试方法,其特征在于,包括主控系统以及与所述主控系统连接的进料装置、定位系统、发光装置、探针测试装置、画面获取装置、第一机械手、第二机械手,所述进料装置位于所述定位系统的一侧,所述第一机械手、第二机械手位于所述进料装置与定位系统的中间,所述发光装置位于所述定位系统的下方,所述探针测试装置位于所述定位系统的一侧,所述画面获取装置位于所述定位系统的正上方,所述画面获取装置上设有摄像头。
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