[发明专利]一种结构可靠性分析的两步插值线抽样方法在审
| 申请号： | 201711112286.2 | 申请日： | 2017-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN107885702A | 公开（公告）日： | 2018-04-06 |
| 发明（设计）人： | 袁修开;叶阿旭;刘洋 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙)35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种结构可靠性分析的两步插值线抽样方法，涉及工程结构可靠性分析，通过改变线抽样方法的插值策略，以期达到提高算法的稳健性和效率，适用于可靠性分析领域。它包括以下步骤(1)求解结构的重要方向；(2)依据变量分布进行抽样；(3)基于每个样本进行两步插值得到对应的交点及条件概率值；(4)计算失效概率。本发明对传统的线抽样中采用的单次插值方法进行改进，在不增加结构分析次数的情况下，提高结构失效概率求解的准确性和稳健性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 可靠性分析 两步插值线 抽样 方法 | ||
【主权项】：
一种结构可靠性分析的两步插值线抽样方法，其特征在于包括以下步骤：1)求解结构可靠性的重要方向；2)在标准正态空间中对变量进行抽样；3)两步插值法求解样本对应的交点及条件概率值；4)计算失效概率。
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