[发明专利]压力传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201711113454.X 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107892268B 公开(公告)日: 2023-07-14
发明(设计)人: 吕萍;李刚;胡维 申请(专利权)人: 苏州敏芯微电子技术股份有限公司
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81C1/00
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤;董琳
地址: 215123 江苏省苏州市苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种压力传感器及其制造方法,所述压力传感器包括:衬底;收容腔,位于所述衬底内,包括底壁和侧壁;感应本体,悬浮于所述收容腔内,所述感应本体与所述收容腔侧壁之间具有深槽,所述感应本体与收容腔底壁之间具有与所述深槽连通的第一腔体,且所述感应本体与收容腔侧壁之间通过位于所述深槽内的悬梁固定连接;所述感应本体包括:半导体层、位于所述半导体层表面的介质层、贯穿所述介质层至半导体层内的密闭的第二腔体、覆盖所述介质层和第二腔体的器件层,所述器件层表面具有压阻条。上述压力传感器具有应力释放结构,可靠性高。
搜索关键词: 压力传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种压力传感器,其特征在于,包括:衬底;收容腔,位于所述衬底内,包括底壁和侧壁;感应本体,悬浮于所述收容腔内,所述感应本体与所述收容腔侧壁之间具有深槽,所述感应本体与收容腔底壁之间具有与所述深槽连通的第一腔体,且所述感应本体与收容腔侧壁之间通过位于所述深槽内的悬梁固定连接;所述感应本体包括:半导体层、位于所述半导体层表面的介质层、贯穿所述介质层至半导体层内的密闭的第二腔体、覆盖所述介质层和第二腔体的器件层,所述器件层表面具有压阻条。
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