[发明专利]一种大口径轴对称非球面测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 201711116481.2 申请日: 2017-11-13
公开(公告)号: CN107883912B 公开(公告)日: 2019-09-10
发明(设计)人: 陈智利;弥谦;刘卫国;杨利红;阳志强;张进 申请(专利权)人: 西安工业大学
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20
代理公司: 西安新思维专利商标事务所有限公司 61114 代理人: 黄秦芳
地址: 710032 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及光学加工与测量技术领域,具体涉及一种大口径轴对称非球面测试方法及装置。其实现大口径非球面的精确测量,可将探针式接触测量设备的测量量程增大80%,实现大口径光学表面的检测测量。本发明采用探针式轮廓仪进行表面轮廓测量时,测针在测量杆的带动下沿非球面表面做横向运动,随零件表面轮廓的形状进行纵向扫描,从而改变了测量光路与参考光路之间的光程差,使干涉条纹发生移动,对测量结果进行分析,得到非球面的测量偏差数据,实现了大口径零件的检测和分析。
搜索关键词: 一种 口径 轴对称 球面 测试 方法 装置
【主权项】:
1.一种大口径轴对称非球面测试装置的测试方法,其特征在于:所述的测试方法的步骤为:1)将被测量光学元件(1)放置于自定心透镜夹持器(2)上,将本装置安装于探针式轮廓检测仪的工作台上;2)探针式轮廓检测仪的探针由边沿过非球面顶点获得测量数据L_0.mod,过顶点后测量长度不小于5mm;将旋转台旋转180度后,探针由边沿过非球面顶点以同样方式获得测量数据R_0.mod;3)对测量数据L_0.mod二次曲线拟合,得到二次曲线方程y=ax2+bx+c,其极值位置‑b/2a即为非球面顶点近似位置,对于凸非球面为极大值、凹非球面为极小值,在数据L_0.mod中找出对应的顶点位置,以顶点为基准,各测量数据减去顶点的测量数据,获得测量曲线相对坐标,对应数据为L_1.mod;对测量数据R_0.mod以同样的处理方式,获得其相对坐标,对应数据为R_1.mod;4)将获得的曲线坐标数据L_1.mod,截取顶点两侧的对称数据获得L_2.mod,与非球面设计数据对比获得偏差数据L_error.mod,对偏差数据L_error.mod进行直线拟合,取拟合直线斜率对应的角度α为修正角度,对曲线L_1.mod以顶点为中心用‑α曲线进行旋转调平修正为L_3.mod;对R_1.mod数据以同样的处理方式,获得其旋转调平修正数据R_3.mod;5)将获得的旋转修正的曲面数据L_3.mod,依据非球面轴对称的加工特征,通过函数优化方法平移量ΔX,确定出非球面精确非球面顶点,优化规则是:以确定的顶点为基准,顶点左右两侧数据均方根偏差值RMS的差值最小,即对L_3.mod取中心点两侧的对称数据L_4.mod,所述的函数优化方法是用进退法确定平移区间,使用黄金分割法确定平移量ΔX,使用ΔX补偿后确定出非球面顶点O的精确位置,在L_3.mod数据上找到相应的顶点位置,记为O′,对L_3.mod数据以O′点为基准,各测量数据减去顶点的测量数据获得数据L_5.mod;对数据R_3.mod以同样处理方式,获得数据R_5.mod;6)获得的数据L_5.mod,截取边沿到中心,R_5.mod截取中心到边沿的两部分数据,以顶点为基准进行拼接,获得整个口径的测量数据D_all.mod,该数据为测量拼接结果。
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