[发明专利]一种测定电子陶瓷产品排胶效果的方法在审
| 申请号： | 201711117092.1 | 申请日： | 2017-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN107831301A | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 戴承萍 | 申请（专利权）人： | 戴承萍 |
| 主分类号： | G01N33/38 | 分类号： | G01N33/38;G01N5/04 |
| 代理公司： | 北京方向标知识产权代理事务所(普通合伙)11636 | 代理人： | 段斌 |
| 地址： | 415502 湖南省常德市澧*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定电子陶瓷产品排胶效果的方法，包括以下步骤，将标准电子陶瓷产品样品和被测电子陶瓷产品进行排胶，选取三到四个排胶后的被测电子陶瓷产品作为样品，对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行三点式弯曲强度检测，对比三到四个排胶后的被测电子陶瓷产品弯曲强度应力值与标准电子陶瓷产品样品的弯曲强度应力值，对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行断裂韧性检测，并比对两个产品的断裂纹进行比较。本发明通从材料的根本上检测，提高了检测的精确度，多层比较避免出错，提高了电子产品排胶检测的质量，避免了人工观测误差造成的产品生产质量严重现象的发生。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 电子 陶瓷产品 效果 方法 | ||
【主权项】：
一种测定电子陶瓷产品排胶效果的方法，包括以下步骤：S1：将标准电子陶瓷产品样品和被测电子陶瓷产品进行排胶；S2：选取三到四个排胶后的被测电子陶瓷产品作为样品，对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行三点式弯曲强度检测，排胶后的被测电子陶瓷产品和截面的弯矩为M，该截面对中性轴的惯性矩为Iz，那么距中性轴距离为y点的应力大小为：，最大应力出现在被测产品的中间，也就是与加载点重合的截面上离中性轴最远的点，应力大小大小计算公式为，所述公式中P为载荷的大小，a为两个加载点中的任何一个距支点的距离，b和h分别为被测样品的宽度和高度；S3：根据S2中得到的弯曲强度应力值，对比三到四个排胶后的被测电子陶瓷产品弯曲强度应力值与标准电子陶瓷产品样品的弯曲强度应力值；S4：对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行断裂韧性检测，并比对两个产品的断裂纹进行比较；S5：对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行硬度检测，并对比两个产品的硬度；S6：对一个排胶后的被测电子陶瓷产品和标准电子陶瓷产品样品进行粉碎，并进行碳含量检测。
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